是一款*的高灵敏度分光光度计，可进行深紫外区检测，具备大样品室，可满足光学、半导体及FPD在以下方面的检测需求。

　　FPD：

　　材料评估中NIR和大样品的高灵敏度测定。

　　半导体：

　　短波长激光和12英寸晶片整体表面的深紫外区测定。

　　光通信：

　　减反射膜NIR高灵敏度测定。

　　光学：

　　从DUV到NIR再到大样品的高灵敏度分析。

　　SolidSpec-370/3700DUV特点

　　高灵敏度

　　SolidSpec-3700和3700DUV是*台使用3个检测器的分光光度计：光电倍增管（PMT）探测器检测紫外区和可见光区，近红外区使用InGaAs 和 PbS检测器。InGaAs 和 PbS检测器的使用使得近红外区域的灵敏度显著增强。

　　深紫外区检测

　　SolidSpec-3700DUV具有检测深紫外区的能力，可测定至165nm或175nm的积分球。此检测是用氮气吹扫光室和样品室进行的。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光单元DDU-DUV测定）的zui短波长。

　　大样品室

　　大样品室（900W x 700D x 350H mm) 可在不损伤大样品的前提下进行检测。其垂直光路可直接测量大样品同时保持它们的水平状态。使用自动X-Y样品台（选配）测定样品的尺寸是12英寸或310×310mm。

　　SolidSpec-3700Optional Accessories选配组件

　　Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光单元DDU/DDU-DUV对于液、固样品透过率测定

　　自动X-Y样品台（自动测量）

　　大型镜面反射附件

　　氮气流量装置

　　镜面反射附件(5°12°30°45°)

　　积分球删除样品盘

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