大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。

　　image.png

　　产品特点（*为选配件）

　　特色功能

　　丰富拓展性

　　扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。

　　SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

　　背散射电子探测器

　　二次电子成像和背散射电子成像对比

　　背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。

　　钨灯丝扫描电镜

　　https://www.chem17.com/st432671/product_35636738.html

　　http://www.ciqtek-chem17.com/Products-35636738.html